Einleitung
Elektronenmikroskopie und Rastersondentechniken
- TEM
- REM, engl. SEM
- STM
- AFM
- ESEM: Environmental Scanning Electron Microscope
- FIB: Focused Ion Beam
- Cryo-REM
- HR-REM: Hechauflösungselektronenmikroskopie, ermöglicht die atomare Abbildung von Probendetails, wie Gitterabbildung und Defekte, und über Elektronenbeugung (ED) kann die Kristallstruktur mit hoher lateraler Auflösung ermittelt werden. Die atomare Auflösung der TEM-Bilder beruht auf dem Phasenkontrast und ist nicht etwa durch Materialunterschiede oder unterschiedlich dicke Probenbereich (Massenkontrast) bedingt.
EDXSim Bereich der Elemente mittlerer und hoher Ordnungszahlen liegt, undEELSdie leichten Elemente abdeckt und zusätzliche Information zur chemischen Bindung der Atome in der Probe liefert- unspezifische Bremsstrahlung (Untergrund)
Mobilitätanalyse
- SMPS-System (Scanning Mobility Particle Sizer)
- Aufladung
radioaktive Quelle –> bipolare
Corona-Entladung –> unipolare
Diffusionsaufladung
Feldaufladung - DMA
- CPC: Condensation Particcle Counter
FCE: Faraday-Cup-Elektrometer
- In Suspensionen
- LDA: Laser-Dopppler-Anemometer(气流计)
- Zeta-Potential
- Elektroakustik
Trägheitsspektroskopie
Sorptionsanalyse
Wechselwirkung mit elektromagnetischer Strahlung
Ultraschallextinktion
Thermogravimetrie (TGA)
Beispiel
Abkürzung Zusammenfassungen
| Abkürzung | Völlständigen |
|---|---|
| DMA | Differential Mobility Analyzer |
| CPC | Condensation Particle Counter |
| FCE | Farady Cup Electrometer |
Vokablen
- sonochemisch 声化学的
