Charaterisierung von Nanopartikeln

Einleitung

Elektronenmikroskopie und Rastersondentechniken

1. TEM
2. REM, engl. SEM
3. STM
4. AFM
5. ESEM: Environmental Scanning Electron Microscope
6. FIB: Focused Ion Beam
7. Cryo-REM
8. HR-REM: Hechauflösungselektronenmikroskopie, ermöglicht die atomare Abbildung von Probendetails, wie Gitterabbildung und Defekte, und über Elektronenbeugung (ED) kann die Kristallstruktur mit hoher lateraler Auflösung ermittelt werden. Die atomare Auflösung der TEM-Bilder beruht auf dem Phasenkontrast und ist nicht etwa durch Materialunterschiede oder unterschiedlich dicke Probenbereich (Massenkontrast) bedingt.
9. EDXS im Bereich der Elemente mittlerer und hoher Ordnungszahlen liegt, und EELS die leichten Elemente abdeckt und zusätzliche Information zur chemischen Bindung der Atome in der Probe liefert
10. unspezifische Bremsstrahlung (Untergrund)

Mobilitätanalyse

1. SMPS-System (Scanning Mobility Particle Sizer)

• Aufladung radioaktive Quelle --> bipolare Corona-Entladung --> unipolare Diffusionsaufladung Feldaufladung
• DMA
• CPC: Condensation Particcle Counter FCE: Faraday-Cup-Elektrometer

2. In Suspensionen

• LDA: Laser-Dopppler-Anemometer (气流计)
• Zeta-Potential
• Elektroakustik

Trägheitsspektroskopie

Sorptionsanalyse

Wechselwirkung mit elektromagnetischer Strahlung

Ultraschallextinktion

Thermogravimetrie (TGA)

Beispiel

Abkürzung Zusammenfassungen

Abkürzung	Völlständigen
DMA	Differential Mobility Analyzer
CPC	Condensation Particle Counter
FCE	Farady Cup Electrometer

Vokablen

1. sonochemisch 声化学的